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利用蔡司的工業計算機斷層掃描系統，僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗。標準的驗收檢測、精密工程和完善的校準程序可確保系統的追蹤性。配備線性導軌及轉臺，滿足客戶對精確性的高要求。
工業CT METROTOM
面向未來的質量控制——今天：
十二年來，蔡司METROTOM系列一直為質量控制提供可靠的CT技術。第三代計算機斷層掃描（CT）系統蔡司METROTOM 1500極好地證明了先進可靠的X射線技術不再是未來的愿景。今天，您可以使用面向未來的質量控制。
看得更多：
在第三代系統中，新的3k檢測器可生成更高分辨率的3D體數據集，即更多體素可以檢測到更小的缺陷。
掃描更快：
通過檢測器的不同操作模式，掃描時間可減少多達75％，同時獲得與2k檢測器相當的體素尺寸。
測量與檢驗整體部件：
蔡司METROTOM是一種工業計算機斷層掃描系統，用于測量和檢查由塑料或輕金屬制成的完整部件。而在利用傳統測量機測量時，此類隱藏性的結構信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得。
輕松且精準地進行多樣化特征檢測：
利用蔡司METROTOM 計算機斷層掃描系統可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結果非常精確，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，蔡司METROTOM 獲取海量測量點時，時間顯著縮短。
蔡司METROTOM系列
METROTOM 800 130 kV
高精準度
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時間 |
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密度 |
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精度 |
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分辨率 |
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ZEISS METROTOM 800 225kV HR
快速獲取，高密度的部件和細節描述
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ZEISS METROTOM 1500
即使對于非常大的部件也能實現更多的靈活
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